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    德國Fischer 菲希爾銅厚測量儀SR-SCOPE DMP 30

    產品型號: SR-SCOPE DMP 30
    品  牌: 德國Fischer
    • ≧1 臺
      ¥38000.00
    所 在 地: 廣東深圳
    更新日期: 2025-02-11
    詳細信息
     品牌:德國Fischer  加工定制:否  型號:SR-SCOPE DMP 30  
     類型:涂層  測量范圍:0.5-10μm或5-120μm mm 顯示方式:數字圖像  
     電源電壓:3 V 外形尺寸:150 mm 顯示方式:數字圖像  
    德國FISCHER 菲希爾銅厚測量儀 SR-SCOPE DMP 30

    銅厚接觸式測量專家 - SR-SCOPE DMP 30 銅厚測量的首選
    堅固耐用、功能強大的手持設備,用于測量印刷電路板上的銅厚。數字探頭 D-PCB-具有出色的精度和*大的可重復性,并與設備一起通過 USB-C 接口和藍牙實現智能連接,堅固耐用、防磨損的探頭電極可確保長期獲得精確的測量結果,適用于測量多層電路板或層壓板上的薄銅層,不會受到隔離的深層銅層的影響。

    功能全面,外殼堅固耐用,質量上乘,采用現代設計和直觀的Tactile Suite®軟件。我們的 SR-SCOPE® DMP®30 是測量 PCB 銅層的專家。在您的生產過程中,無論是來貨還是出貨,都能精確可靠地檢測銅層厚度,而不受底層的影響。

     

     
    優點
    經久耐用 - 采用全鋁外殼,質量和耐用性更上一層樓
    完美貼合 - 電池更換快捷方便,可全天候測量全面測量控制 - 通過燈光、聲音和振動反饋測量值是否在公差范圍內。
    數字探頭 - 全數字化探頭,可完成*苛刻的測量任務
    功能強大的 軟件 - 自動識別設備,輕松導出數據,提供全面報告

    探頭
    數字探頭 D-PCB-具有出色的精度和*大的可重復性,并與設備一起通過 USB-C 接口和藍牙實現智能連接。    
    可更換和充電的鋰離子電池可使測量工作持續 24 小時以上。這既經濟又可持續。      
    Tactile Suite@是接觸式涂鍍層厚度測量領域*直觀的軟件。傳輸、評估和導出數據從未如此簡單。      
    使用符合 DIN EN 14571 標準的4點電阻法可靠地測量涂鍍層厚度。  
    堅固耐用、防磨損的探頭電極可確保長期獲得精確的測量結果。  
    適用于測量多層電路板或層壓板上的薄銅層,不會受到隔離的深層銅層的影響。

     
     

    德國FISCHER 菲希爾銅厚測量儀 SR-SCOPE DMP 30
     

    特點:
    測量方法:微電阻率
    使用符合 DIN EN 14571 標準的 4 點電阻法測量涂鍍層厚度
    測量范圍:0.5 - 10 微米或 5 - 120 微米
    測量值記憶:2,500 個應用中的 250,000 個
    通過 USB-C 和藍牙自動檢測設備并輕松傳輸數據
    堅固的鋁制外殼,防護等級 IP64
    可更換鋰離子電池,工作時間 > 24 小時
    提供數字探頭 D-PCB
    通過燈光、聲音和振動監測限值


    應用案列:
    測量印刷電路板和多層板頂面的銅厚,而不會受到位于更深處的絕緣銅層的影響。
    銅層厚度范圍為 0.5 - 10 µm 和 5 - 120 µm

    測量方法:

    微電阻率法

    精確測定印刷電路板上的銅厚度。
    微電阻率法適用于根據 ISO 14571 測量絕緣基板上導電層的厚度。它通常用于檢查印刷電路板和多層印刷電路板上的銅涂層。該方法的優點是,印刷電路板上的其他層或夾層對測量沒有影響,因此即使層數很薄,也能精確測量厚度。

    微電阻率法的工作原理。
    這種方法使用的探針底部有四根排成一行的針。將探針置于表面時,電流會在兩根外針之間流動。涂層就像一個電阻,通過兩個內針測量其上的電壓降。隨著涂層厚度的減小,電壓降和電阻也隨之增大,反之亦然。控制印刷電路板和多層印刷電路板上的銅涂層
    所有電磁測量方法都是比較法。這意味著測量信號要與設備中存儲的特性曲線進行比較。為確保結果正確,必須根據當前條件調整特性曲線。這可以通過校準用于涂層厚度測量的測量設備來實現。
     
     

    哪些因素會影響測量結果?
    所有電磁測量方法都是比較法。這意味著測量信號要與設備中存儲的特性曲線進行比較。為確保結果正確,必須根據當前條件調整特性曲線。這可以通過校準用于涂層厚度測量的測量設備來實現。

    正確校準帶來不同
    影響涂層厚度測量的因素主要有:銅層的比電阻率(間接影響溫度)、測量表面或導電路徑的大小以及銅層上的附加層。

    比電阻率和溫度
    除涂層厚度外,銅的電阻率也會影響測量針之間的電壓降。電阻率會因金屬的合金和加工工藝而異。此外,它在不同溫度下也會變化。因此有必要在測量條件下進行溫度補償或校準。

    測量面的大小
    對于窄的測量表面,例如導電路徑,電流的運行與寬的物體不同。這種與理論電流的偏差會導致涂層厚度測量的系統誤差。因此,對樣品的*小尺寸或到樣品邊緣的*小距離有專門的探頭規格。

    附加層
    如果銅上還有其他鍍層,如錫,探頭會根據銅厚度的比例測量其鍍層厚度。測量誤差的大小取決于銅和涂層材料的比電導率之比。

    重要提醒
    為避免測量結果出錯,還必須考慮以下影響因素:
    特別軟的涂層(如磷酸鹽涂層)造成的壓痕誤差。
    探針桿磨損導致散射增加;建議定期檢查


    為避免測量結果出錯,還必須考慮以下影響因素:
    特別軟的涂層(如磷酸鹽涂層)造成的壓痕誤差。
    探針桿磨損導致散射增加;建議定期檢查

    執行標準
    微電阻法,符合 ISO 14571 標準
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