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美國(guó)GE貝克休斯測(cè)厚探頭DA412

產(chǎn)品型號(hào)：

DA412

品牌：

美國(guó)GE

≧1 只
￥5500.00

所在地：

廣東深圳

更新日期：

2025-04-30

詳細(xì)信息

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	品牌：美國(guó)GE		型號(hào)：DA412		加工定制：否
	用途：探傷儀測(cè)厚儀探頭		是否進(jìn)口：是		產(chǎn)地：美國(guó)

美國(guó)GE貝克休斯測(cè)厚探頭DA412

接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場(chǎng)分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開(kāi)
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
斜探頭
·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探頭通過(guò)模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測(cè)，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊
·有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測(cè)

水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規(guī)則表面的被檢測(cè)件
·通常用于機(jī)械化或者自動(dòng)化檢測(cè)
·耦合一致性好，檢測(cè)重復(fù)性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進(jìn)效果

用于壁厚測(cè)量的探頭，特別地與我們的數(shù)字測(cè)厚儀相匹配

測(cè)厚儀	量程 [mm]	短號(hào)碼 [訂購(gòu)號(hào)碼]	接觸面積Ø [mm]	f [MHz]	溫度 [℃]	電纜	備注
DM4..	1.2-200 0.6-50	DA301 DA312	12.5 7.5	5 10	20 +60 -20 +60	DA231 DA235
	5-300 7-60	DA303 DA0.8G	17 29	2 0.8	-20 +60 -10 +60	DA231 DA231
	2-80 1.0-15 5-150 4-60 1-50	DA317 DA319 DA315 DA305 HT400	12.5 7.5 17 16 13	5 10 2 5 5	25 +300 25 +300 25 +300 10 +600 -10 +540	DA233 DA233 DA233 DA235 KBA535	短時(shí)間接觸
	0.6-20 0.7-12	DA312B11 DA312B16	4 3	10 10	-20 +60 -20 +60	固定 1 . 5 米電纜
	對(duì)話(huà)技術(shù)
	1.2-200 0.6-50	DA401 DA412	12.5 7.5	5 10	-10 +60 -10 +60	DA231 DA235
	5-300 7-60	DA403 DA408	17 29	2 0.8	-10 +60 -10 +60	DA231 DA231